產品類型 |
測試項目 |
參考標準 |
參考標準 |
IC封裝 |
濕度敏感度/先前性處理實驗 |
J-STD-020,JESD22-A113 |
TC -40℃ to +60℃ 5 cycles , baking 125℃/24H ,Moisture soaking, TH 30°C/60%RH/192hrs,IR reflow 3 cycles |
溫度衝擊實驗 |
JESD22-A106 |
-65 ℃– 150℃ |
壓力鍋實驗 |
JESD22-A102 |
121℃ ,2atm,100%RH,168H |
帶電/不帶電高加速應力測試 |
JESD22-A110,A118 |
130℃,85% RH,96hrs ,without bias |
高溫存儲實驗 |
JESD22-A103 |
85℃, 1000 hrs |
厚膜 |
溫度衝擊實驗 |
JESD22-A106 |
0 ℃-100 ℃ 500 cy |
高溫存儲實驗 |
JESD22-A103 |
85℃ 500hrs
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光電產品 |
溫度循環實驗 |
J-ESD22-A104/MIL-STD-883 Method 1010.7 |
-40℃–85℃ 500cy |
帶電/不帶電恒溫恒濕存儲實驗 |
JESD22-A101/EIAJ-IC-121 |
85 ℃ 85% RH 1000 hrs |
高溫存儲實驗 |
MIL-STD-883 Method 1008 |
58℃ 2000hrs with bias
85℃ 2000hrs without bias
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光電傳感器 |
濕度敏感度/先前性處理實驗 |
J-STD-020,JESD22-A113 |
TC -40℃ to +60℃ 5 cycles , baking 125℃/24H ,Moisture soaking, TH 30°C/60%RH/192hrs,IR reflow 3 cycles |
帶電/不帶電 高加速應力測試 |
JESD22-A110,JESD22-A118 |
130℃,85% RH,96hrs ,without bias |
高溫存儲實驗 |
JESD22-A103 |
85℃, 1000 hrs |
帶電/不帶電 恒溫恒濕存儲實驗 |
JESD22-A101 |
85 °C / 85% RH, 500hrs |
溫度循環實驗 |
JESD22-A104 |
-40℃/+85℃, 1000 cycles |